.png){kind=icon}
)).png){kind=icon}
Рентгеновский дифрактометр NANOSTAR
- Обзор
- Характеристики
- Отзывы0
Система малоуглового рентгеновского рассеяния NANOSTAR с увеличенным диапазоном изменения расстояний от образца до детектора позволяет определять характеристики наноструктур методами SAXS и WAXS (мало- и широкоугловое рассеяние рентгеновских лучей), а наноструктурированных поверхностей и пленок — методом GI-SAXS (малоугловое рассеяние рентгеновских лучей при скользящем падении). Острофокусные источники рентгеновского излучения с оптикой Монтеля создают пучок высокой интенсивности с низким паразитным рассеянием. Камера для образцов очень большого размера оснащена различными специализированными держателями образцов и дополнительными модулями. Система использует современные высокоэффективные 2D-детекторы с низким уровнем фона для исследования изотропных и анизотропных образцов.
Основные преимущества:
- горизонтальное расположение оптической схемы;
- высокоэффективные источники рентгеновского излучения: IμS, TXS, METALJET;
- оптический модуль MONTEL со сменными коллиматорами;
- большая камера для образцов с множеством различных держателей;
- позиционно-чувствительный 2D-детектор VÅNTEC-2000;
- большой диапазон изменения расстояния от детектора до образца;
- возможность автоматизированной работы для рутинных измерений;
- гарантированная заводская юстировка;
- автоматическое распознавание компонентов системы;
- широкий спектр применения: изучение полимеров, биологических материалов, волокон, металлов, нанопорошков, сложных жидкостей и наноструктур.
Технические характеристики
| Применение | малоугловое рассеяние, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, анализ материалов электронной техники, исследования при нестандартных условиях (температура, давление, влажность, реакционные среды, электрическое поле), наноматериалы, коллоидные жидкости, жидкие кристаллы, аморфные материалы, органические и биологические материалы, волокна, полимеры, наноструктурированные поверхности, мембраны |
| Тип | система малоуглового рентгеновского рассеяния |
| Исполнение | напольный |
| Мощность генератора, Вт | 100–9000 |
| Тип источника рентгеновского излучения | высокоэффективный источник с вращающимся анодом, микрофокусный источник излучения IμS, высокоэффективный источник излучения METALJET |
| Тип гониометра | вертикальный Theta/Theta, вертикальный Theta/Theta с дополнительным плечом для некомпланарной геометрии измерения |
| Диаметр гониометра, мм | 500–1080 |
| Расположение оптической системы малоуглового рассеяния | горизонтальная |
| Оптические модули | фиксированные щели, моторизированные щели, оптика Монтеля (со сменными коллиматорами) |
| Геометрия фокусировки | на просвет, двухкоординатная специализированная для малоугловых систем |
| Моторизированные платформы и приставки | |
| одноосевая вращающаяся | да |
| координатная трехосевая | да |
| компактная текстурная трехосевая | да |
| текстурная пятиосевая | да |
| капиллярная с функцией вращения | да |
| автоматизированный сменщик проб | нет |
| двухкоординатная специализированная для малоугловых систем | нет |
| Типы детекторов | нет |
| Линейный позиционно-чувствительный детектор | нет |
| Двухкоординатный позиционно-чувствительный детектор | VÅNTEC-2000 2D |
| Программное обеспечение | DIFFRAC.TOPAS, DIFFRAC.SAXS |
| Базы дифракционных и структурных данных | нет |
| Габариты (Д × Ш × В), мм | 950 × 3542 × 1486 |
| Вес, кг | 1400 |
| Внесен в госреестр | Не внесен |
| Производитель | «Bruker Elemental GmbH», Германия |
Рентгеновский дифрактометр NANOSTAR отзывы
Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий
Рекомендуем посмотреть Сравнить все
